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  • 2026

    3-25

    如何利用X射線能譜進行微區元素分析?應用案例分享

    廣電計量提供覆蓋Si、SiN、LiNbO?等材料體系的硅光芯片全流程測試服務,功能單元包含硅光芯片、MPD、Heater、MZI、光波導及激光器等。測試項目涵蓋耦合損耗、調制效率、傳輸損耗、帶寬、電阻、暗電流、響應度、眼圖、模斑等參數測試,...

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  • 2026

    3-25

    靜電放電(ESD)對電子產品的危害及防護設計

    從芯片到系統:ESD抗擾度測試與整改實例,展現了廣電計量解決復雜ESD問題的全棧式服務能力。針對機載電子設備等專業應用,我們依據RTCADO-160標準,可執行從±2kV至±15kV嚴酷等級的接觸放電與空氣放電測...

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  • 2026

    3-25

    XPS/AES/SIMS三種表面分析技術的原理與選擇

    在生產制造過程中,材料表面的微量污染物往往是導致涂層附著力下降、接觸不良或外觀不良的根源。材料表面污染分析:如何定位污染物來源?廣電計量提供了一套系統的“溯源”方法。我們優選多種精密分析儀器,首先利用掃描電鏡及能譜(SEM/EDS)觀察污染...

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  • 2026

    3-25

    電子元器件錫須生長的機理與檢測技術

    無鉛化轉型后,錫須自發生長導致的短路問題一直是電子制造業的“隱形殺手”。錫須形貌觀察與成分分析:SEM在失效分析中的應用,揭示了利用掃描電鏡技術追溯這一微觀隱患的完整路徑。廣電計量擁有完備的錫須檢查試驗設備與經驗豐富的分析團隊,嚴格遵循IE...

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  • 2026

    3-24

    輻射騷擾(RE)測試要點與常見超標原因分析

    靜電放電(ESD)對電子產品的危害及防護設計,涉及從芯片到整機的多層次考量。廣電計量在集成電路測試領域具備行業專業能力,能夠依據JS-001、JESD22-A114等標準,提供從人體模型(HBM)、充電器件模型(CDM)到閂鎖效應(LU)的...

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  • 2026

    3-24

    輻射抗擾度(RS)測試方法及IEC61000-4-3標準解讀

    FCC/CE認證中的輻射發射要求及預測試技巧,直擊電子產品出口認證的痛點——認證周期長、整改成本高。廣電計量創新性地推出“預測試+整改+正式認證”的一站式服務模式。我們擁有專業的預掃描實驗室,幫助客戶在進入昂貴的正式認證前快速摸底,依據CI...

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